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Planilla de Actividades Curriculares
Código: M0652
Caracterización de Materiales
Última Actualización de la Asignatura: 01/03/2017
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Descargar Planilla N°2 [PDF]CARRERAS PARA LAS QUE SE DICTA
| Carrera | Plan | Carácter | Cantidad de Semanas | Año | Semestre |
|---|---|---|---|---|---|
| 03026 - Ingeniería en Materiales | 2002 | Obligatoria |
Totales:
0
Clases:
Evaluaciones:
|
4to |
7º - |
CORRELATIVIDADES
INFORMACIÓN GENERAL
PLANTEL DOCENTE
- Profesor Adjunto - Ordinario, Dedicación Exclusiva
- Dr/a.Kang, Kyung Won
adriana.kang@ing.unlp.edu.ar
- Ayudante Diplomado - Ordinario, Dedicación Simple
- Ing.Bonvicini Menéndez, Pablo Federico pablo.bonvicini@ing.unlp.edu.ar
OBJETIVOS
Dotar al estudiante de los conocimientos básicos referentes a las técnicas de caracterización de materiales.
PROGRAMA SINTÉTICO
·- Macrografía- Técnicas materialográficas- Microscopía electrónica analítica- Espectroscopía óptica y de resonancia - Métodos de difracción de rayos x- Evaluación no destructiva
PROGRAMA ANALÍTICO
Año: 2022, semestre: 1
Vigencia: 16/12/2009 - Actualidad
Unidad Temática I - Macrografía. Técnicas de macroataque para revelado estructural y de la calidad de materiales. Reactivos y procedimientos. Interpretación de los resultados: discontinuidades, defectos y elementos estructurales.
Unidad Temática II - Técnicas materialográficas. Materialografia óptica. y análisis de imágenes. Principios básicos, usos generales, aplicaciones y limitaciones. Preparación de muestras. Revelado microestructural. Materialografía cuantitativa.
Unidad Temática III - Microscopía electrónica analítica. Microscopía electrónica de barrido. Microscopía electrónica de transmisión. Microscopía confocal. Microanálisis químico: análisis de rayos X utilizando espectrómetros dispersivos en longitud de onda (WDS) o dispersivos en energía (EDS). Espectroscopía electrónica Auger. Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS), Inductively Coupled Plasma (ICP). Raman. Fundamentos, usos generales, aplicaciones y limitaciones. Preparación de muestras.
Unidad Temática IV- Espectroscopía óptica y de resonancia. Espectroscopía de emisión óptica. Espectroscopía de absorción atómica. Espectroscopías Laser de Absorción y emisión, Laser Induced Photoacustic Spectroscopy. Espectroscopía Mössbauer. Fundamentos, usos generales, aplicaciones y limitaciones. Preparación de muestras
Unidad Temática V - Métodos de difracción de rayos x. Polvos. Monocristales. Texturas cristalográficas. Análisis de tensiones residuales.
Unidad Temática VI- Evaluación no destructiva. Técnicas fotónicas para mediciones de precisión, control de calidad de productos y procesos, determinación de tamaños de partículas, espesores, y rugosidad de superficies, sensores remotos, etc.: Interferometría óptica, Speckle, Holografía, Scattering de luz. Preparación de réplicas para microscopía. Cromatografía.
Vigencia: 16/12/2009 - Actualidad
Unidad Temática I - Macrografía. Técnicas de macroataque para revelado estructural y de la calidad de materiales. Reactivos y procedimientos. Interpretación de los resultados: discontinuidades, defectos y elementos estructurales.
Unidad Temática II - Técnicas materialográficas. Materialografia óptica. y análisis de imágenes. Principios básicos, usos generales, aplicaciones y limitaciones. Preparación de muestras. Revelado microestructural. Materialografía cuantitativa.
Unidad Temática III - Microscopía electrónica analítica. Microscopía electrónica de barrido. Microscopía electrónica de transmisión. Microscopía confocal. Microanálisis químico: análisis de rayos X utilizando espectrómetros dispersivos en longitud de onda (WDS) o dispersivos en energía (EDS). Espectroscopía electrónica Auger. Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS), Inductively Coupled Plasma (ICP). Raman. Fundamentos, usos generales, aplicaciones y limitaciones. Preparación de muestras.
Unidad Temática IV- Espectroscopía óptica y de resonancia. Espectroscopía de emisión óptica. Espectroscopía de absorción atómica. Espectroscopías Laser de Absorción y emisión, Laser Induced Photoacustic Spectroscopy. Espectroscopía Mössbauer. Fundamentos, usos generales, aplicaciones y limitaciones. Preparación de muestras
Unidad Temática V - Métodos de difracción de rayos x. Polvos. Monocristales. Texturas cristalográficas. Análisis de tensiones residuales.
Unidad Temática VI- Evaluación no destructiva. Técnicas fotónicas para mediciones de precisión, control de calidad de productos y procesos, determinación de tamaños de partículas, espesores, y rugosidad de superficies, sensores remotos, etc.: Interferometría óptica, Speckle, Holografía, Scattering de luz. Preparación de réplicas para microscopía. Cromatografía.
BIBLIOGRAFÍA
Año: 2022, semestre: 1
Vigencia: 16/12/2009 - Actualidad
En castellano:
-Barret, C. S., Estructura de los Metales, Aguilar, 1957.
-Kehl, Práctica Metalográfica.
En inglés:
- Metals Handbook Materials Characterization, 9 th edition.
- Electron Microprobe Analysis. S.J.B.Reed. Cambridge University Press, Cambridge, Great Britain, 1975.
- Scanning electron microscopy - Physics and Image formation and microanalysis. L.Reimer. Springer Series in Optical Sciences. Springer-Verlag Berlin Heidelber, 1985.
- Quantitative electron-probe microanalysis. V.D.Scott and G.Love. Halsted Press, a division of John Wiley & Sons, New York, 1983.
- Principles of Analytical Electron Microscopy. D.C.Joy , A.D.Romig, Jr., and J.I.Goldstein. Plenum Press, New York and London, 1989.
- Electron Microscopy and X-Ray microanalysis. Second Edition. J.I.Goldstein, D.E.Newbury, P.Echlin, D.C.Joy, A.D.Romig, Jr., C.E.Lyman, C.Fiori, and E.Lifshin. Scanning Plenum Press, New York and London, 1992.
- Laser-induced breakdown spectroscopy (LIBS). Fundamental and applications. Cambridge University Press, 2006. Palleschi, I. Schechter.
- Handbook of laser-induced breakdown spectroscopy. D.A.Cremers, L.J.Radziemski. John Wiley and Sons, Ltd. 2006.
- Photoacustics and photoacustic spectroscopy. A.Rosencwaig. John Wiley & Sons. New York, 1980.
- Applications of photoacustic sensing techniques A.C.Tam. Reviews of Modern Physics. Vol.58, No.2, 1986.
- Basics of interferometry. Second edition. P.Hariharan. Academic Press, 2006.
- Principles of nano-optics. Lukas Novotny and Bert Hecht. Cambridge University Press, 2006.
- Optical imaging and microscopy. Techniques and advanced systems. Peter Torok, Fu Jen Kao, eds. Springer Optical Sciences, 2003.
- Confocal laser scanning microscopy. C.J.Sheppard and D.M.Shotton. Microscopy Handbook 38. Springer-Verlag, New York, 1998.
Nota: además de la bibliografía citada, existen apuntes de la cátedra que cubren todos los temas.
"Programa aprobado en la 24a. Sesión Ordinaria del H.C.A. del 16 de diciembre de 2009."
Vigencia: 16/12/2009 - Actualidad
En castellano:
-Barret, C. S., Estructura de los Metales, Aguilar, 1957.
-Kehl, Práctica Metalográfica.
En inglés:
- Metals Handbook Materials Characterization, 9 th edition.
- Electron Microprobe Analysis. S.J.B.Reed. Cambridge University Press, Cambridge, Great Britain, 1975.
- Scanning electron microscopy - Physics and Image formation and microanalysis. L.Reimer. Springer Series in Optical Sciences. Springer-Verlag Berlin Heidelber, 1985.
- Quantitative electron-probe microanalysis. V.D.Scott and G.Love. Halsted Press, a division of John Wiley & Sons, New York, 1983.
- Principles of Analytical Electron Microscopy. D.C.Joy , A.D.Romig, Jr., and J.I.Goldstein. Plenum Press, New York and London, 1989.
- Electron Microscopy and X-Ray microanalysis. Second Edition. J.I.Goldstein, D.E.Newbury, P.Echlin, D.C.Joy, A.D.Romig, Jr., C.E.Lyman, C.Fiori, and E.Lifshin. Scanning Plenum Press, New York and London, 1992.
- Laser-induced breakdown spectroscopy (LIBS). Fundamental and applications. Cambridge University Press, 2006. Palleschi, I. Schechter.
- Handbook of laser-induced breakdown spectroscopy. D.A.Cremers, L.J.Radziemski. John Wiley and Sons, Ltd. 2006.
- Photoacustics and photoacustic spectroscopy. A.Rosencwaig. John Wiley & Sons. New York, 1980.
- Applications of photoacustic sensing techniques A.C.Tam. Reviews of Modern Physics. Vol.58, No.2, 1986.
- Basics of interferometry. Second edition. P.Hariharan. Academic Press, 2006.
- Principles of nano-optics. Lukas Novotny and Bert Hecht. Cambridge University Press, 2006.
- Optical imaging and microscopy. Techniques and advanced systems. Peter Torok, Fu Jen Kao, eds. Springer Optical Sciences, 2003.
- Confocal laser scanning microscopy. C.J.Sheppard and D.M.Shotton. Microscopy Handbook 38. Springer-Verlag, New York, 1998.
Nota: además de la bibliografía citada, existen apuntes de la cátedra que cubren todos los temas.
"Programa aprobado en la 24a. Sesión Ordinaria del H.C.A. del 16 de diciembre de 2009."
ACTIVIDADES PRÁCTICAS
Carga horaria total para el desarrollo de los trabajos de laboratorio: 24 hs.- Macrografía. Carga horaria total: 2 hs.- Microscopía óptica y análisis de imágenes. Carga horaria total: 6 hs.- Microscopía electrónica. Carga horaria total: 4 hs.- Espectroscopía óptica y de resonancia. Carga horaria total: 4 hs.- Difracción de rayos x. Carga horaria total: 4 hs.- Evaluación no destructiva. Carga horaria total: 4 hs.De cada uno de los trabajos de laboratorio el alumno deberá presentar un informe escrito individual.Instrumental utilizado por los alumnos en los laboratorios indicados:· Microscopio óptico· Analizador de imágenes.· Dispositivos de preparación y ataque de muestras metalógráficas· Microscopio electrónico de barrido· Espectrómetros· Difractómetros· Equipamiento de laboratorio químico· Equipos para ensayos no destructivos
ACTIVIDADES PRÁCTICAS (Continuación)
ACTIVIDADES PRÁCTICAS (Continuación)
METODOLOGÍA DE ENSEÑANZA
El curso se desarrolla en forma teórico-práctica. Cada unidad temática se desarrolla mediante clases introductorias del tema y resolución de cuestionarios teórico-prácticos y laboratorios. Cada alumno en forma individual deberá realizar un informe escrito de cada laboratorio
SISTEMA DE EVALUACIÓN
: El sistema de evaluación adoptado por la cátedra es el establecido por la Ordenanza Nº 28 con ampliación de las instancias de evaluación.El alumno es evaluado durante el desarrollo del curso a través de:- Cuatro evaluaciones parciales, de característica teórico-prácticas que abarcan los contenidos de las unidades desarrolladas- Participación en las clases y laboratorios- Informes de laboratorios.- Desempeño individual.La calificación final es el promedio de las notas de todas las instancias que se utilizan para la evaluación.
MATERIAL DIDÁCTICO
Dado que esta es una nueva materia en el Plan de Ingeniería en Materiales ,la cátedra prevee elaborar apuntes de todos los contenidos que comprenden los nueve módulos en que está dividida la asignatura, a saber:Unidad Temática I: MacrografíaUnidad Temática II: Técnicas materialográficasUnidad Temática III: Miccroscopía electrónicaUnidad Temática IV: Espectroscopía óptica y de resonanciaUnidad Temática V: Métodos de difracción de rayos xUnidad Temática VI: Evauación no destructiva de materiales